服務熱線

13810664973
網站導航
產品展示
當前位置:主頁 > 產品展示 > 光度色度 > 膜厚測試產品
  • 半導體膜厚測試儀
    半導體膜厚測試儀
    半導體膜厚測試儀-OPTM 測量目標膜的絕對反射率,實現高精度膜厚和光學常數測試! (分光干渉法)
    更新時間:2022-02-14    訪問次數:750
    查看詳情
共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 

2023 版權所有 © 先鋒科技(香港)股份有限公司  備案號: sitemap.xml 管理登陸 技術支持:化工儀器網

地址:香港灣仔駱克道301-307號洛克中心19樓C室 傳真: 郵件:Lina-He@zolix.com.cn

關注我們

服務熱線

掃一掃,關注我們

国产精品偷伦免费视频还看旳,精品宅男噜噜噜久久久,国产性色AV无码不卡久久,综合国产亚洲精品a在线观看